晶沐光电深耕半导体晶圆加工,依托成熟磨抛减薄、激光加工,提供各种晶圆键合解决方案,实现同质 / 异质晶圆键合,永久 / 临时晶圆键合,采用高真空密封、高温高压、表面活化等键合条件,为各种晶圆芯片应用包括3D集成、先进封装、MEMS、功率器件、射频与光电器件提供高可靠界面连接,助力科研院所实现定制化,小批量的晶圆键合工艺方案。



晶圆单片清洗工艺
百级无尘贴合工艺
KSB-H1000晶圆键合机
永久键合是将两片晶圆或芯片永久性结合,形成高强度、高气密、高可靠的一体化结构,一旦键合完成不可拆分。以下是永久键合的分类:
· 原理:晶圆经超洁净清洗、等离子活化与 CMP 平坦化,室温下依靠范德华力预键合,高温退火形成 Si-O-Si 共价键,实现 原子级贴合。
· 特点:无中间层、高气密性、高强度、绝缘性优,界面无空洞、低应力。
· 适用:硅片/硅片、硅片/氧化硅片、硅片/SOI 晶圆等。
· 原理:高温 + 高压电场协同作用,硅与玻璃界面形成化学键,实现高强度气密键合。
· 特点:键合强度接近本体强度、漏率极低、工艺稳定、适配密封腔体。
· 适用:硅/硼硅玻璃等。
· 原理:金属中间层(Au-Sn、Cu-Sn、In、Au-Si)在低温共晶点液化扩散,冷却后形成高强度金属键合。
· 特点:低温、高导电导热、工艺窗口宽、可靠性强。
· 适用:镀铜晶圆/镀金晶圆/镀锡晶圆等。
· 原理:高温 + 精准压力促进金属原子扩散互连,实现无焊料高可靠键合。
· 特点:互连密度高、界面电阻低、各种晶圆的直接键合。
· 适用:硅晶圆/镀金属晶圆/化合物半导体晶圆/蓝宝石/玻璃晶圆/碳化硅晶圆/陶瓷晶圆等。
· 原理:铜互连 + 介质键合同步完成,机械与电气连接一体化,亚微米级间距高密度互连。
· 特点:超高带宽、极低延迟、低损耗、支撑 HBM 与 AI 芯片堆叠。
· 适用:3D NAND、HBM、AI 处理器、高端 Chiplet、超大规模集成电路晶圆。



蓝宝石/硅片键合
氧化硅/蓝宝石键合
砷化镓/硅片键合
二、临时键合的种类与工艺方法
临时键合是将晶圆或芯片通过键合胶暂时粘在载片上,完成背面工艺后再温和分离。以下是按解键合原理主流分为以下几类:
· 原理:用热塑性材料,高温软化贴合,冷却后变硬;解键时再次加热软化,通过平移滑移分离。
· 典型材料:热塑性树脂、PPC、聚酰亚胺类
· 优点:耐温好、耐化学性强、适合高温背面工艺
· 缺点:解键需加热,可能有少量残胶
· 适用:硅晶圆减薄、TSV、常规先进封装
· 原理:先 UV 固化提供强度;解键时用短波长 UV照射,使胶层降解 / 失粘,轻松剥离。
· 典型材料:UV 降解胶、UV 双面胶带
· 优点:室温工艺、解键温和、适合热敏器件
· 缺点:载体需透光,耐温一般
· 适用:MEMS、CIS、化合物半导体、超薄晶圆
· 原理:激光穿透透明载片,被激光吸收层分解,胶层快速失粘,无接触分离。
· 典型材料:激光响应涂层 + 键合胶
· 优点:无应力、无残胶、精度高、适合大尺寸超薄晶圆
· 缺点:设备与材料成本高
· 适用:3D IC、HBM、Chiplet、高端先进封装
· 原理:用低熔点合金熔融键合,解键时再次加热熔化分离。
· 典型材料:In、SnBi、AuSn 等
· 优点:极高耐温、高导热、耐强酸强碱
· 缺点:金属残留难清洗、工艺复杂
· 适用:SiC/GaN 功率器件、高温工艺
· 硅晶圆、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)
· 蓝宝石、砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)
· 石英玻璃、硼硅玻璃、氧化铝 / 氮化铝陶瓷
· 金刚石晶圆、键合复合晶圆、SOI 晶圆
· 钽酸锂/铌酸锂晶圆、镀膜晶圆等
· 先进 3D 封装:3D IC、WLCSP、FOWLP、TSV/ TGV 垂直互连、Chiplet 异构集成
· 功率半导体:IGBT、MOSFET、SiC/GaN 器件,提升散热与耐压
· 射频 5G / 毫米波:功放、滤波器、射频前端,保障高频稳定
· MEMS / 传感器:加速度计、陀螺仪、压力传感器,真空密封高可靠
· 光电器件:LED、激光芯片、红外探测器、硅光模块,优化光电耦合
· 高端研发:SOI 制备、异质集成、超薄试样、科研攻关
· 快速试样响应,小批量打样 均可承接
· 专业工艺团队,提供方案定制、参数优化、技术对接
· 交期稳定,品质一致性强,适配研发试样