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3C-SiC 薄膜异质界面热边界导率 功率器件散热瓶颈解决方案

一、前言:界面热阻,功率器件散热的隐形瓶颈

在功率器件研发与热设计过程中,多数企业仅关注衬底块体材料的热导率参数,却长期忽略外延薄膜热导率、异质界面热边界导率(TBC)两大核心指标。

现代半导体器件均为多层异质堆叠结构,热量需要依次穿过衬底、缓冲层、外延层、电极等多层界面。大量工程案例证实:相比于衬底本身的导热短板,多层界面的热阻堆积,才是制约高功率芯片散热、导致局部过热、器件失效的核心隐形瓶颈。

基于《Nature Communications》前沿研究,本文重点解析3C-SiC外延薄膜的面内、跨面导热性能,以及3C-SiC/Si、3C-SiC/AlN异质界面的热边界传导特性,从薄膜与界面维度,拆解功率器件散热优化方案,为宽禁带异质集成器件的热仿真、方案设计、工艺迭代提供权威实测依据。

二、高质量3C-SiC外延薄膜:超薄厚度下的顶尖导热性能

受尺寸效应影响,半导体薄膜材料的声子易在上下边界发生散射,普遍存在薄膜热导率远低于块体材料的问题,超薄器件的散热难度大幅提升。而本次研究制备的高纯低缺陷3C-SiC薄膜,突破了传统薄膜的导热局限。

本次实验采用BO-TDTR光束偏移时域热反射技术测试面内热导率,搭配常规TDTR技术测试垂直跨面热导率,双向验证薄膜散热能力:面内热导率决定芯片横向热点扩散能力,跨面热导率决定热量向衬底纵向导出能力。

 

【图1】BO‑TDTR测试原理;3C‑SiC薄膜面内、跨面热导率对比;温度依赖热导率曲线

 

经过多组温度、厚度对照测试,3C-SiC薄膜展现出行业顶尖的导热优势:

• 面内导热超越金刚石薄膜:同等厚度条件下,3C-SiC外延薄膜面内热导率优于金刚石薄膜,可快速扩散芯片局部热点,杜绝局部高温积热问题。

• 跨面导热远超GaN、AlN:1.75μm厚3C-SiC薄膜,跨面热导率可达块体材料的80%,是块体GaN热导率的2倍;即便厚度薄至0.93μm,导热性能仍媲美块体GaN材料。

• 全温区性能稳定:在全测试温度区间内,3C-SiC薄膜面内、跨面热导率,全面领先同规格AlN、GaN外延薄膜。

从工程应用角度来看,当前主流GaN、SiC功率器件的有源层均为微米级薄膜结构,采用3C-SiC作为缓冲层、热扩散层,可在器件微型化、高密度集成的前提下,完美解决超薄芯片的散热难题,适配高端高频功率器件研发需求。

三、3C-SiC异质外延界面:超高热边界导率,破解集成散热难题

异质集成是宽禁带半导体产业化的核心趋势,通过GaN、SiC与硅、AlN等材料的复合集成,可兼顾高性能与低成本。但异质材料结合产生的界面热阻,会严重阻碍热量传导,成为异质器件性能升级的最大短板。

本次研究针对产业最常用的两类集成结构:3C-SiC/Si、3C-SiC/AlN,开展TEM界面表征与热边界导率精准测试。

 

【图2】3C‑SiC/Si、3C‑SiC/AlN界面TEM电镜图;多类半导体界面热边界导率TBC柱状对比图

 

界面表征结果显示:外延原生界面原子级平整,无厚重非晶过渡层,界面结合致密、缺陷极少,为高效导热奠定结构基础。核心实测数据行业领先:

• 3C-SiC/Si界面TBC≈620MW·m⁻²·K⁻¹:处于半导体异质界面第一梯队,是金刚石-Si界面的10倍、Si-Ge界面的2.5倍,界面热阻极低。

• 3C-SiC/AlN外延界面同样具备超高热边界导率,适配多类型宽禁带集成器件。

相较于传统键合工艺制备的异质界面,3C-SiC原生外延界面无缺陷、无杂层、热阻小,可完美解决异质集成器件的界面散热瓶颈。同时依托硅基外延兼容优势,可实现高热导3C-SiC与成熟硅基电路的低成本集成,大幅提升高密度混合集成电路的散热效率与工作可靠性。

四、3C-SiC材料综合优势与产业化挑战

1、核心综合优势

• 块体性能顶尖:各向同性超高热导率>500W/(m·K),大尺寸晶圆可量产,仅次于金刚石;

• 电学性能优异:SiC多型体中最高沟道迁移率,大幅降低器件开关与导通损耗;

• 薄膜性能领先:微米级超薄薄膜仍保持超高导热,适配微型化高功率器件;

• 集成能力极强:可硅基外延生长,原生异质界面热阻极低,兼容传统硅工艺;

• 应用场景广泛:覆盖功率电力电子、GaN器件衬底、芯片热管理、高频射频器件等领域。

2、产业化现存挑战

• 工艺门槛高:高质量晶圆的堆垛层错、位错等缺陷控制难度大;

• 杂质管控严苛:微量硼杂质即可大幅降低热导率,对生长设备与工艺要求极高;

• 产业链待完善:商业化成熟度不及4H/6H-SiC,器件可靠性验证、量产配套仍需迭代。

五、总结与行业展望

传统4H-SiC、6H-SiC仍是当前碳化硅产业的主流选择,但在高功率、高密度、异质集成的产业发展趋势下,3C-SiC凭借超高薄膜导热、超低界面热阻、可硅基集成、低损耗的独特优势,形成差异化技术竞争力。

对于器件研发企业而言,3C-SiC不再是小众备选材料,而是下一代高端功率器件预研、散热方案升级、产品性能迭代的核心技术方向,具备极高的研发与量产价值。

晶沐光电可供应2‑12英寸碳化硅,涵盖导电、半绝缘类型,支持3C‑SiC、4H‑SiC、6H‑SiC多种晶型定制,可全面满足科研实验、器件预研、小批量试样及量产的衬底供货需求。

 

 

 

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