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To be a globally leading semiconductor wafer material processing and technology service provider
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FRT晶圆厚度检测仪(1).jpg

FRT检测图谱(1).jpg

FRT晶圆厚度检测仪

FRT检测图谱

Candela晶圆颗粒度检测仪(1).jpg

Candela数据图谱(1).jpg

Candela晶圆颗粒度检测仪

Candela数据图谱

AFM晶圆粗糙度检测仪(1).jpg

AFM数据图谱(1).jpg

AFM晶圆粗糙度检测仪

AFM数据图谱

X射线晶体检测仪(1).jpg

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X射线晶体检测仪

XRD数据图谱


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